

高岡智則
年齢:33歳 性別:男性 職業:Webディレクター(兼ライティング・SNS運用担当) 居住地:東京都杉並区・永福町の1LDKマンション 出身地:神奈川県川崎市 身長:176cm 体系:細身〜普通(最近ちょっとお腹が気になる) 血液型:A型 誕生日:1992年11月20日 最終学歴:明治大学・情報コミュニケーション学部卒 通勤:京王井の頭線で渋谷まで(通勤20分) 家族構成:一人暮らし、実家には両親と2歳下の妹 恋愛事情:独身。彼女は2年いない(本人は「忙しいだけ」と言い張る)
透過型電子顕微鏡とは?
透過型電子顕微鏡(TEM)は、非常に小さなものを拡大して観察できる道具です。光の顕微鏡では見えない細かな構造を、電子の力で映し出します。TEMが使われる場面は、生物の細胞の内部構造の研究、金属や半導体の材料研究、ナノ材料の観察など、多岐にわたります。
仕組みと基本構成
TEMの「原理」は、電子を発生させて試料に向けて照射し、試料を透過した電子をレンズで集めて像を作ることです。TEMには以下の部品があります: 電子銃、コンデンサーレンズ、対物レンズ、投影レンズ、真空チャンバー、試料ステージ、そして画像を捉える検出系。これらはすべて高真空の中で動作します。
TEMと光学顕微鏡の違い
TEMは、数万倍〜数百万倍の解像度を持つことが多く、原子レベルの細部まで見える場合があります。一方、光学顕微鏡は、波長が長い光を使うため見える情報が限られ、通常は細胞の全体像や組織の構造を観察します。TEMを使うには、試料を薄く切断したり金属でコーティングしたりする前処理が必要です。これにより電子が試料を透過しやすくなります。
試料の準備と観察の流れ
TEM用の試料は薄く加工し、特殊な固定・脱水・乾燥を経て、真空状態に耐えられる形にします。観察前には、試料を適切な位置に固定し、電子線のエネルギーをコントロールするための設定を行います。準備には時間と専門知識が必要で、専門の設備が求められます。
用途の実例と学べること
TEMは材料科学での欠陥観察、半導体デバイスの微細構造解析、生物学の細胞内構造の研究など、さまざまな場面で活躍します。結晶の配列、界面の性質、粒子の形状などを高解像度で見ることで、新しい材料開発や病気の原因解明につながる知見が得られます。
比較表
| 特徴 | TEM | 光学顕微鏡 |
|---|---|---|
| 原理 | 電子を使って像を作る | 光を使って像を作る |
| 分解能の目安 | 数十ピコメートル〜数ナノメートル | 数百ナノメートル程度 |
| 試料の厚さ | 非常に薄い膜状 | 生きた試料も観察可能な場合が多い |
| 真空の必要性 | 必要 | 不要な場合が多い |
まとめ
透過型電子顕微鏡は、私たちの目には見えない世界を映し出す強力な道具です。正しい前処理と操作技術があれば、物質の内部構造や生体の微細な特徴を詳しく観察できます。実験や研究の現場では、欠かせない重要な道具のひとつです。
透過型電子顕微鏡の同意語
- 透過型電子顕微鏡
- 電子を透過させて標本の薄片を観察する高解像度の顕微鏡。電子ビームが標本を透過した際に生じる透過像を検出して像を作る。主に材料科学や生物学などで微細構造の観察に使われる。
- 透過電子顕微鏡
- 透過型電子顕微鏡と同義の表現。薄片にした試料を電子が透過する際の像を用いて高倍率・高解像度で観察する装置。
- TEM
- 英語の頭字語『Transmission Electron Microscope』の略称。日本語の文章や文献でも広く TEM として使われ、透過型電子顕微鏡を指す。
- トランスミッション電子顕微鏡
- 英語の 'transmission' をカタカナ表記にした表現。透過型電子顕微鏡の別表現として用いられることがあるが、一般的には TEM が多く使われる。
- トランスミッション型電子顕微鏡
- 『トランスミッション電子顕微鏡』と同様の意味。文献によってはこの表現を用いることがあるが、日常的には『透過型電子顕微鏡』と同義とされることが多い。
透過型電子顕微鏡の対義語・反対語
- 反射型電子顕微鏡
- 透過ではなく、試料表面で反射・散乱した電子を用いて像を作る電子顕微鏡。表面の形状・微細構造の観察に適している。
- 走査型電子顕微鏡(SEM)
- 電子ビームを試料表面上で走査し、二次電子・反射電子を検出して像を作る。表面の模様・質感を高解像で観察でき、透過像は得られない。
- 光学顕微鏡
- 可視光を用いて標本を観察する顕微鏡。電子顕微鏡とは原理が異なるため、観察対象や解像度の違いがある。
- 非透過型電子顕微鏡
- 透過できない厚みの試料を対象とする電子顕微鏡の総称。TEMと対照的に、厚さや透過性の観点で使われる表現。
透過型電子顕微鏡の共起語
- 加速電圧
- 電子ビームを加速する電圧。主にキロボルト(kV)単位で設定され、観察の分解能や試料ダメージに大きく影響します。
- 電子銃
- 電子を発生させる装置。通常は熱電子源や冷陰極が用いられ、TEMの最初の電子源となります。
- 電子源
- 電子を放出する部品・素材の総称。共通して電子ビームの基となる部分です。
- 電子ビーム
- 試料に照射する高エネルギーの電子の束。透過型電子顕微鏡の基本撮影媒介となります。
- 対物レンズ
- 試料から出た電子を集光して像を作る主レンズ。像の焦点と解像度を決定します。
- 試料グリッド
- 試料を載せる薄い金属メッシュ。TEM観察の支持体として使われます。
- 薄片
- TEM観察用に極薄く切断・準備された試料片。電子の透過を可能にします。
- 超薄片
- TEM観察用に特に薄く作られた試料片。原子レベルのディテール観察にも適します。
- 薄片作製
- 試料を超薄片に加工する一連の工程。機械的切削・エッチング・凍結割断などを含みます。
- 真空
- TEMは真空中で運用され、電子の自由な伝播と試料の汚染防止の役割を担います。
- 高真空
- 高い真空度を保つ状態。散乱を抑え、試料の汚染を防ぎ、電子の伝播を安定させます。
- 電子回折
- 電子の波が試料内部で回折する現象。結晶構造の解析や格子情報の取得に用いられます。
- 結晶回折
- TEMで得られる回折パターンから結晶情報を読み取る手法。電子回折と密接に関連します。
- 分解能
- 像が識別できる最小の構造寸法。TEMの主要な性能指標のひとつです。
- HRTEM
- 高分解能透過電子顕微鏡。原子レベルの観察を可能にする技術。
- STEM
- 走査型透過電子顕微鏡。ビームを走査して像を形成する観察モードの総称。
- BF像
- 明場像。薄片を透過した電子の分布に基づく像で、コントラストの基本形です。
- DF像
- 暗場像。特定条件で電子を選択的に集め、コントラストを強調した像です。
- HAADF像
- 高角度周辺暗部像。原子番号(Z)対比を強く表現するSTEMの観察像の一種です。
- Z対比
- 原子番号の違いによるコントラスト。HAADF像で特に顕著になります。
- EELS
- 電子エネルギー損失分光。スペクトルから元素・電子構造を分析します。
- エネルギー損失分光
- EELS の別名。電子のエネルギー損失スペクトルを用いた分析手法。
- EDX
- エネルギー分散X線分析(EDS/EDX)。TEMで元素の同定・分布を調べます。
- EDS
- エネルギー分散X線分析の略称。元素分析の基本技法です。
- 元素分析
- 試料の元素組成を特定する分析。定性・定量の両方を含みます。
- 元素マッピング
- 試料内の元素分布を像として可視化する技術・結果。
- CCDカメラ
- TEMの像を検出・デジタル化して保存する検出器の一種。
- CMOSカメラ
- CCDと並ぶデジタル検出器の一種。低ノイズ・高感度のものもあります。
- 検出器
- 像を検出・デジタル化するデバイス全般。CCD/CMOSなどが含まれます。
- コントラスト
- 像の明暗差。試料の厚さ・材料・欠陥などで決まります。
- ノイズ低減
- 信号のノイズを抑える技術・処理。画像の品質向上に寄与します。
- 倍率
- 観察対象を拡大表示する倍率。実測スケールの計算に使われます。
- 観察モード
- BF、DF、STEM、HAADF など、どのように観察するかのモードの総称。
- 試料の厚さ
- 電子が試料を透過・散乱する度合いに影響する要素。薄ければ透過が増え、厚いと散乱が増えます。
- 格子欠陥
- 結晶格子の欠陥(空孔・欠陥・転位など)を観察対象とすることが多い。
- 結晶格子
- 原子が規則正しく並ぶ点群。TEMでは格子情報を回折・像から読み取ります。
- 2D材料
- グラフェンや層状材料など、薄く平面的な材料。TEMで原子スケールの観察が可能です。
- 真空系
- TEM全体の真空を維持する装置・配管・ポンプなどの集合体。
- 画像処理
- 撮影後のデータを処理・解析するソフトウェア技術。
- 原子番号コントラスト
- 原子番号の違いによるコントラストを指す別称。HAADF像で特に顕著になります。
透過型電子顕微鏡の関連用語
- 透過型電子顕微鏡
- 電子線を試料に透過させて像を作る電子顕微鏡の一種。原子レベルの構造観察に使われる。
- 電子顕微鏡
- 光を使わず電子を用いて拡大観察する顕微鏡。TEMとSEMが代表的。
- 試料グリッド
- 試料を載せる薄い格子状の基板。銅や金などの材料とカーボン膜がよく使われる。
- グリッド材料
- グリッドの素材。銅、ニッケル、金など、用途に応じて選ばれる。
- カーボン膜
- グリッドの上に張る薄い炭素膜。試料の支持と絶縁性の確保に用いられる。
- 樹脂包埋
- 試料を樹脂で固めて薄く切れるようにする前処理。超薄切片作製の前段階。
- 超薄切片
- 超薄い標本切片(おおむね50–100 nm程度)。TEM観察の基本単位。
- 超薄切片作製
- ウルトラミクロトームなどを用いて試料を極薄に切り出す工程。
- 電子銃
- 電子を発生させる部品。TEMの核となる源。
- 熱電子銃
- 熱エミッションで電子を放出するタイプ。安定性が高い。
- 場発電子銃
- 場発源。コヒーレンスが高く、ビームが細く整う。
- 加速電圧
- 電子を加速する電圧。一般的には60–300 kVの範囲で設定される。
- 対物レンズ
- 試料から出た電子を集束させ、像をつくるレンズ。
- 電子像
- 試料を透過した電子で形成される像。
- 透過像
- 透過電子を用いて作るTEMの基本像。
- 明視野像
- BF像。未散乱電子が多く映る明るい像。
- 暗視野像
- DF像。特定の散乱電子のみを検出して像を作る暗い像。
- 高分解能TEM
- 格子間隔の観察が可能な高分解能のTEM。
- SAED
- 選択領域電子回折。特定領域の結晶情報を回折パターンで取得。
- 電子回折
- 電子が試料を回折して生じる回折パターン。
- STEM
- 走査透過電子顕微鏡。電子ビームを走査して局所の透過像を作る方式。
- HAADF
- 高角度周辺暗部検出。原子番号の差を強調して観察するZ-contrast像。
- Z-contrast
- 原子番号の違いによるコントラスト。高原子番号の物質ほど明るく映る。
- EDS
- エネルギー分散型X線分析。元素成分を特定する手法。
- EELS
- 電子エネルギー損失分光。電子のエネルギー損失から材料の性質を分析。
- EFTEM
- エネルギー分散型フィルタTEM。エネルギー選択で画像や分光を観察する手法。
- 3D TEMトモグラフィー
- 試料を様々な角度から撮影して3次元像を再構成する技術。
- 原位TEM
- 試料を加熱・機械変形・電場照射などしながら観察する技法。
- クライオTEM
- 凍結標本を低温で観察するTEM。
- 液相TEM
- 液体を封じたセル内で観察できるTEM。
- 試料の導電性
- 絶縁体は電子の蓄積(帯電)を起こしやすい。その対策として導電性を付与することがある。
- 導電性コーティング
- 薄い金属膜やカーボン膜を試料表面に施し帯電を抑える。
- 金属コーティング
- 銅・金などの金属薄膜で導電性を高める処理。
- 格子欠陥
- ディスロケーションなど格子の欠陥。材料の性質を左右する。
- 格子定数
- 結晶の基本格子間隔。
- 電子ビームダメージ
- ビーム照射で試料が損傷する現象。特に生体や有機材料で顕著。
- ネガティブスタイニング
- 試料を対比強化するための陰性染色を用いる観察法(特に生体標本で使われる)。
- 回折パターン
- 回折実験で得られる格子情報のパターン。
- FFT解析
- 画像データにフーリエ変換をかけて周期性や格子情報を解析する手法。
- CTF補正
- コントラスト転送関数を補正して像の解像を改善する処理。
- 真空
- TEMは高真空環境で動作させ、電子の散乱を抑える。
- 真空ポンプ
- TEM内部を高真空に保つ装置。
- 収束角
- 電子ビームの収束の広がり具合。分解能に影響する。
- CCDカメラ
- TEM像をデジタルとして記録する撮像素子。



















